Multislice

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O algoritmo multislice ("multifatias") é um método para a simulação da interação de um feixe de elétrons com a matéria[1] . O algoritmo é usado na simulação de imagens de alta resolução de microscópio eletrônico de transmissão.

O algoritmo multislice trata os elétrons como ondas que entram, e trata as interações com a matéria como ocorrendo em várias fatias individuais da amostra. Desta forma, a interação entre "camadas" do espécime pode ser desprezada e o tempo de cálculo reduzido.[2] [3]

O método multislice é na abordagem por física óptica (Cowley e Moodie, 1957).[4] [5] [6] [7] [8] Um cristal de espessura z é cortado em fatias finas de espessura muito pequena Dz. Cada fatia do potencial do cristal é projetada sobre um plano (geralmente o plano de entrada da fatia) e introduz uma modulação da transmitância da fatia (isto é equivalente a assumir-se que a dispersão da frente de onda incidente, o potencial de cristal, de cada fatia fina é inteiramente localizada no plano de projeção). A propagação da frente de onda modificada para a próxima fatia é feita no vácuo pelo Dz muito pequeno. Seu equivalente óptico é descrito pela aproximação de Fresnel da fórmula de difração de Rayleigh-Sommerfeld, onde o objeto é substituído por um número infinito de fontes pontuais que emitem ondas esféricas com sua amplitude complexa dada pelo produto da frente de onda incidente a transmitância do objeto.[9]

Referências[editar | editar código-fonte]

  1. Carter, C. B.. Transmission Electron Microscopy. [S.l.]: Plenum Press, 1996. vol. 1 - Basics.
  2. Hirofumi Matsuhata, Paul Fons; Formalistic description of multislice calculation method; Microscopy Research and Technique - Special Issue: High Resolution Electron Microscopy of Materials, Part I; Volume 40, Issue 2, pages 152–161, 15 January 1998; DOI: 10.1002/(SICI)1097-0029(19980115)
  3. Earl J. Kirkland; Advanced Computing in Electron Microscopy; Springer, 2010.
  4. J. M. Cowley and A. F. Moodie, The scattering of electrons by atoms and crystals. I. A new theoretical approach; Acta Cryst. 10 (1957) 609-619. doi:10.1107/S0365110X57002194
  5. Emil Wolf; Progress in Optics, Volume 39; Elsevier, 1999.
  6. Tom Mulvey; The Growth of Electron Microscopy; Academic Press, 1996.
  7. Uri Shmueli; International tables for crystallography, Volume 2; Springer, 2008.
  8. K. Ishizuka; Multislice Implementation for Inclined Illumination and Convergent-Beam Electron Diffraction; Proc. International Symposium on Hybrid Analyses For Functional Nanostructure, Kyoto, 1998.
  9. P. Stadelmann; 5 - Multislice method - cecm.insa-lyon.fr (em inglês)

Ligações externas[editar | editar código-fonte]