Fluorescência de raio X

Origem: Wikipédia, a enciclopédia livre.
Saltar para a navegação Saltar para a pesquisa

A fluorescência de raios X por dispersão de energia é uma técnica analítica multi-elementar não destrutiva capaz de identificar elementos com número atômico Z maior ou igual a 12, através dos raios X característicos Kα, Kβ ou Lα, Lβ dos elementos que estão presentes em uma amostra particular[1]. Neste método, o material a ser analisado é atingido com um feixe de Raios X que interage com os átomos da amostra provocando a ionização das camadas mais internas dos átomos. O preenchimento das vacâncias resultantes, por elétrons mais periféricos, induz a emissão de raios X característicos dos elementos constituintes da amostra, semelhantemente ao que ocorre com o processo PIXE. A diferença entre os dois métodos está na fonte de excitação dos elementos da amostra, sendo utilizado um feixe de íons para a técnica PIXE e um tubo de Raios X ou fontes radioativas, emissoras de Raios X ou Gama, para a produção do feixe na técnica EDXRF. O método EDXRF também é capaz de fornecer indicações das concentrações.

Referências

  1. E.P. Bertin, “Principles and practice of X-Ray spectrometric analysis”, Plenum Press, Londres, p. 1079, 1975.
Ícone de esboço Este artigo sobre física é um esboço. Você pode ajudar a Wikipédia expandindo-o.