Método de Abelès
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Na física o método de Abelès[1] é usado para a medida do índice de refração de filmes finos homogêneos e transparentes. O método se baseia na medida das reflectâncias totais de um feixe de luz p-polarizada (TM) das interfaces ar - substrato e ar - filme - substrato.
Referências
- ↑ Abelès, F. (1 de julho de 1950). «La détermination de l'indice et de l'épaisseur des couches minces transparentes». Journal de Physique et le Radium (em francês). 11 (7): 310–314. ISSN 0368-3842. doi:10.1051/jphysrad:01950001107031000
