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Português: (a) Pico de difração de XRD medido na região do meio de uma nanosonda individual e plotado em escala logarítmica. As linhas tracejadas indicam as posições dos picos de XRD correspondentes a GaN não tensionado (210) e InGaN (210) e (211) com uma concentração média de In de x = 0,076. (b) Evolução dos parâmetros da rede wurtzita a e c ao longo do eixo z da nanosonda, partindo do meio da naosonda em direção ao seu topo.
Data
03/05/2019
Origem
10.3390 / nano9050691
Autor
Eleonora Secco , Heruy Taddese Mengistu , Jaime Segura-Ruíz , Gema Martínez-Criado , Alberto García-Cristóbal , Andrés Cantarero , Bartosz Foltynski , Hannes Behmenburg , Christoph Giesen , Michael Heuken , e Núria Garro.
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