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Índice de Miller: diferenças entre revisões

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[[File:Indices de miller de planos comuns na base cubica.png|thumb|300px|Indices de miller de planos comuns na base cubica]]
Em [[cristalografia]], o '''índice de Miller''' é usado para descrever o conjunto de planos existentes num [[cristal]].
'''Índices de Miller''' são uma notação utilizada em cristalografia para definir famílias de planos em uma rede cristalina de Bravais. Isto é feito indicando-se as coordenadas de um vetor no espaço recíproco, que é normal à família de planos. Em três dimensões, os índices de Miller são representados pela tripla entre parênteses (hkl), onde h,k e l são inteiros com maior divisor comum igual a 1. Se algum dos inteiros é negativo, a convenção é escrever o número com uma barra em cima, no lugar do sinal de negativo, como no caso <math>\bar{h}</math> no lugar de <math>-h</math>.


Uma outra convenção é denotar uma direção no espaço direto com os índices entre colchetes [uvw] onde u, v e w são inteiros com maior divisor comum igual a 1. Assim, o eixo <math>\mathbf{a}_1</math> é a direção <math>[100]</math>, o eixo <math>-\mathbf{a}_2</math> a direção <math>[0\bar{1}0]</math>. Como no caso u, v e w são as coordenadas com respeito à base direta, essa direção não é, em geral, perpendicular ao plano (uvw). Em particular, em sistemas com base direta ortogonal, a direção [uvw] é de fato perpendicular ao plano (uvw).
A posição e orientação do plano de um cristal é determinada por três pontos (do eixo cristalino) não colineares. Os índices de Miller não são exatamente o valor da interseção dos planos com o eixo.
Quando temos um plano que intercepta 3 eixos e um valor (x,0,0),(0,y,0)e(0,0,z) representamos essas interseções por x y z. Invertendo a presentação obtemos 1/x 1/y 1/z, onde daí tiramos os três menores inteiros que satifazem a relação (1/x 1/y 1/z) representando tais números como (hkl).


==Definição==
Exemplo: Supondo um paralelepípedo de arestas 1,2,3 com um dos vértices na origem. Ou seja os planos que interceptam os eixos x,y,z são: (1,0,0),(0,2,0) e (0,0,3) então a interseção é:1 2 3
A orientação de um plano cristalino é unicamente determinada por três pontos não colineares do plano. Se cada ponto é a interseção do plano com cada um dos três eixos cristalinos (se o plano é paralelo ao eixo, toma-se a interseção como sendo no infinito), o plano pode ser determinado fornecendo-se a coordenada da interseção com cada eixo em função dos vetores da base, <math>\mathbf{a}_1, \mathbf{a}_2, \mathbf{a}_3</math>.
invertendo os números temos 1 1/2 1/3 os menores inteiros que satisfazem essa relação são os números: (1,2,3) os quais são os índices de miller.
Uma vez definido o plano a ser estudado, a determinação dos índices de Miller segue as seguintes etapas<ref>Charles Kittel, Introduction to Solid State Physics (7th Edition)</ref>:


* Determinar as interseções do plano nos eixos da base direta. Os eixos podem ser de uma célula primitiva ou não.
O índice de Miller com 4 números (h k l m) é usado nos sistemas cristalográficos [[Sistema cristalino hexagonal|hexagonal]] e [[Sistema cristalino romboédrico|romboédrico]].
* Tomar os valores recíprocos e reduzir para números inteiros através da multiplicação por um fator comum. Geralmente são escolhidos o menor conjunto de inteiros. A tripla entre parênteses (hkl), é denominada índice de Miller.


{{esboço-cristalografia}}
{{esboço-química}}
{{esboço-mineralogia}}


Por exemplo, se as interseções x, y e z forem 1, 3, 5, os índices de Miller são calculados da seguinte forma.
[[Categoria:Cristalografia|I]]


* Tomar os valores recíprocos: <math>\frac{1}{1},\frac{1}{3},\frac{1}{5}</math>
[[ar:مؤشرات ميلر البلورية]]
* Reduzir aos menores termos inteiros: (15 5 3)
[[bg:Индекс на Милър]]

[[de:Millersche Indizes]]
Por convenção, os índices de Miller de um plano são representados entre parênteses, dessa forma, o plano utilizado como exemplo pode ser descrito pelos seguintes índices de Miller: (15 5 3).
[[en:Miller index]]
Se o plano é paralelo a um eixo, a interseção é considerada como ocorrendo no infinito, portanto, o índice de Miller é igual a zero.
[[es:Índice de Miller]]

[[fi:Millerin indeksit]]

[[fr:Indices de Miller et indices de direction]]

[[he:אינדקס מילר]]

[[it:Indici di Miller]]
==Propriedades==
[[ja:ミラー指数]]

[[kk:Кристаллографиялық индекстер]]
Para entender algumas das propriedades do índice de Miller, considere a seguinte definição dos vetores da base recíproca de uma rede de bravais:
[[nl:Miller-index]]
Dado uma base do cristal no espaço direto, <math>\mathbf{a}_1, \mathbf{a}_2, \mathbf{a}_3</math>, a base no espaço recíproco é dada pelas seguintes relações:
[[pl:Wskaźniki Millera]]

[[ru:Индексы Миллера]]
<math>\mathbf{b}_1 = 2\pi\frac{\mathbf{a}_2 \times \mathbf{a}_3}{\mathbf{a}_1 \cdot \mathbf{a}_2 \times \mathbf{a}_3}</math>,
[[sk:Millerov symbol]]
<math>\mathbf{b}_2 = 2\pi\frac{\mathbf{a}_3 \times \mathbf{a}_1}{\mathbf{a}_1 \cdot \mathbf{a}_2 \times \mathbf{a}_3}</math>,
[[sl:Millerjevi indeksi]]
<math>\mathbf{b}_3 = 2\pi\frac{\mathbf{a}_1 \times \mathbf{a}_2}{\mathbf{a}_1 \cdot \mathbf{a}_2 \times \mathbf{a}_3}</math>
[[sr:Милерови индекси]]

[[sv:Millerindex]]
De modo que cada vetor da base recíproca é perpendicular a dois vetores da base direta. Tomando o produto escalar entre os vetores das duas bases conclui-se que:
[[uk:Індекси Міллера]]

[[zh:密勒指数]]
<math>\mathbf{a}_i \cdot \mathbf{b}_j=2\pi\partial_{ij}</math>

===Índices determinam um vetor normal no espaço recíproco===
'''Teorema:''' Um vetor do espaço recíproco (<math>\mathbf{G} = h\mathbf{b}_1 + k\mathbf{b}_2 + l\mathbf{b}_3</math>) com coordenadas iguais aos índices de Miller de um plano (hkl) é perpendicular a esse plano.

'''Demonstração:'''
Da definição, o plano (hkl) intercepta os eixos da base direta nos pontos <math>\frac{1}{h}, \frac{1}{k}, \frac{1}{l}</math> respectivamente. Logo, dois vetores que pertencem ao plano são:

<math>\mathbf{u} = \frac{1}{h}\mathbf{a}_1 - \frac{1}{l}\mathbf{a}_3</math> e <math>\mathbf{v} = \frac{1}{k}\mathbf{a}_2 - \frac{1}{l}\mathbf{a}_3</math>

Tomando o produto escalar de '''G''' com um vetor genérico do plano, e usando <math>\mathbf{a}_i \cdot \mathbf{b}_j=2\pi\partial_{ij}</math> tem-se:

<math> \mathbf{G} \cdot ( x \mathbf{u} + y \mathbf{v} ) = x ( \mathbf{b}_1 \cdot \mathbf{a}_1 - \mathbf{b}_3 \cdot \mathbf{a}_3 )+ y ( \mathbf{b}_2 \cdot \mathbf{a}_2-\mathbf{b}_3 \cdot \mathbf{a}_3)=0</math>


onde x,y são números reais arbitrários.

Logo, '''G''' é perpendicular ao plano (hkl).

===Distância entre planos adjacentes===
'''Teorema:''' A distância entre planos adjacentes é <math>\frac{2\pi}{|\mathbf{G}|}</math>.

'''Demonstração:'''
Ao traçar uma família de planos cristalinos paralelos, sempre é possível escolher uma célula (primitiva ou não) cuja origem pertence a um plano dessa família. Desse modo, a distância entre planos adjacentes é a distância do plano (hkl) até a origem do sistema da célula cristalina. O problema se resume então a determinar a distância de um plano até a origem.

Um vetor normal ao plano é G = hb1 + kb2 + lb3, então, os pontos (x,y,z) que pertencem a uma reta perpendicular ao plano e que passa pela origem é:
(x,y,z) = G

Como a reta é perpendicular ao plano, a distância deste até a origem é dada pela projeção de um vetor qualquer que liga a origem ao plano, na direção da reta. Um destes vetores éu=1/la3.
Logo:
u.G/|G| = 2Pi/|G|

==Direções cristalográficas e variação nas propriedades dos materiais==
As direções cristalográficas estão ligadas aos determinados índices de Miller dos planos tratados. Uma vez que é sabida a anisotropia de diversas propriedades dos materiais, é possível associá-las as diferentes direções cristalográficas, por exemplo:
Uma vez que o estudo dos materiais foi intensificado, ficou-se cada vez mais claro a possibilidade de análise de propriedades térmicas, elétricas, mecânicas entre outras em diferentes direções do material. Por exemplo:

*Propriedades Ópticas: Espalhamento da radiação depende do fator de forma de um material. Assim sendo, átomos mais próximos apresentam um efeito diferente do de átomos mais afastados.
*Propriedades Elétricas: A condução em um determinado material é influenciada pela direção do cristal na qual é analisada. Um exemplo é o grafite, que conduz eletricidade na direção dos planos atômicos, porém perpendicularmente a eles apresenta comportamento isolante. <ref>Neil W. Ashcroft and N. David Mermin, Solid State Physics (Harcourt: New York, 1976)</ref>

[[File:Cristal de carbono hexagonal.png|thumb|Cristal de carbono hexagonal]]

*Propriedades mecânicas: Diversas quantidades importantes nos estudos de mecânica, como módulo de Young, razão de Poisson e módulo de cisalhamento de um material apresentam diferenças entre seus respectivos valores para direções cristalográficas diferentes. Tomemos como exemplo um cristal de Silício. Seu módulo de Young na direção [100] é igual a 130 GPa, porém, quando tensionado na direção [111], seu módulo apresenta valor igual a 189 GPa. <ref>J. J.Wortman and R. A. Evans, “Young’s modulus, shear modulus, and Poisson’s ratio in silicon and germanium”, J. Applied Physics, vol. 36(1), pp. 153–156, Jan. 1965.</ref>

Cabe-se mencionar que o desenvolvimento de instrumental específico propiciou a análise das diferentes facetas das propriedades dos materiais. Equipamentos como o microscópio de transmissão, difratômetros, ressonâncias nucleares magnéticas entre outros fazem parte do pilar destas análises.


== Referências ==
{{reflist}}

Revisão das 15h56min de 2 de outubro de 2011

Indices de miller de planos comuns na base cubica

Índices de Miller são uma notação utilizada em cristalografia para definir famílias de planos em uma rede cristalina de Bravais. Isto é feito indicando-se as coordenadas de um vetor no espaço recíproco, que é normal à família de planos. Em três dimensões, os índices de Miller são representados pela tripla entre parênteses (hkl), onde h,k e l são inteiros com maior divisor comum igual a 1. Se algum dos inteiros é negativo, a convenção é escrever o número com uma barra em cima, no lugar do sinal de negativo, como no caso no lugar de .

Uma outra convenção é denotar uma direção no espaço direto com os índices entre colchetes [uvw] onde u, v e w são inteiros com maior divisor comum igual a 1. Assim, o eixo é a direção , o eixo a direção . Como no caso u, v e w são as coordenadas com respeito à base direta, essa direção não é, em geral, perpendicular ao plano (uvw). Em particular, em sistemas com base direta ortogonal, a direção [uvw] é de fato perpendicular ao plano (uvw).

Definição

A orientação de um plano cristalino é unicamente determinada por três pontos não colineares do plano. Se cada ponto é a interseção do plano com cada um dos três eixos cristalinos (se o plano é paralelo ao eixo, toma-se a interseção como sendo no infinito), o plano pode ser determinado fornecendo-se a coordenada da interseção com cada eixo em função dos vetores da base, .

Uma vez definido o plano a ser estudado, a determinação dos índices de Miller segue as seguintes etapas[1]:

  • Determinar as interseções do plano nos eixos da base direta. Os eixos podem ser de uma célula primitiva ou não.
  • Tomar os valores recíprocos e reduzir para números inteiros através da multiplicação por um fator comum. Geralmente são escolhidos o menor conjunto de inteiros. A tripla entre parênteses (hkl), é denominada índice de Miller.


Por exemplo, se as interseções x, y e z forem 1, 3, 5, os índices de Miller são calculados da seguinte forma.

  • Tomar os valores recíprocos:
  • Reduzir aos menores termos inteiros: (15 5 3)

Por convenção, os índices de Miller de um plano são representados entre parênteses, dessa forma, o plano utilizado como exemplo pode ser descrito pelos seguintes índices de Miller: (15 5 3). Se o plano é paralelo a um eixo, a interseção é considerada como ocorrendo no infinito, portanto, o índice de Miller é igual a zero.



Propriedades

Para entender algumas das propriedades do índice de Miller, considere a seguinte definição dos vetores da base recíproca de uma rede de bravais: Dado uma base do cristal no espaço direto, , a base no espaço recíproco é dada pelas seguintes relações:

, ,

De modo que cada vetor da base recíproca é perpendicular a dois vetores da base direta. Tomando o produto escalar entre os vetores das duas bases conclui-se que:

Índices determinam um vetor normal no espaço recíproco

Teorema: Um vetor do espaço recíproco () com coordenadas iguais aos índices de Miller de um plano (hkl) é perpendicular a esse plano.

Demonstração: Da definição, o plano (hkl) intercepta os eixos da base direta nos pontos respectivamente. Logo, dois vetores que pertencem ao plano são:

e

Tomando o produto escalar de G com um vetor genérico do plano, e usando tem-se:


onde x,y são números reais arbitrários.

Logo, G é perpendicular ao plano (hkl).

Distância entre planos adjacentes

Teorema: A distância entre planos adjacentes é .

Demonstração: Ao traçar uma família de planos cristalinos paralelos, sempre é possível escolher uma célula (primitiva ou não) cuja origem pertence a um plano dessa família. Desse modo, a distância entre planos adjacentes é a distância do plano (hkl) até a origem do sistema da célula cristalina. O problema se resume então a determinar a distância de um plano até a origem.

Um vetor normal ao plano é G = hb1 + kb2 + lb3, então, os pontos (x,y,z) que pertencem a uma reta perpendicular ao plano e que passa pela origem é: (x,y,z) = G

Como a reta é perpendicular ao plano, a distância deste até a origem é dada pela projeção de um vetor qualquer que liga a origem ao plano, na direção da reta. Um destes vetores éu=1/la3. Logo: u.G/|G| = 2Pi/|G|

Direções cristalográficas e variação nas propriedades dos materiais

As direções cristalográficas estão ligadas aos determinados índices de Miller dos planos tratados. Uma vez que é sabida a anisotropia de diversas propriedades dos materiais, é possível associá-las as diferentes direções cristalográficas, por exemplo: Uma vez que o estudo dos materiais foi intensificado, ficou-se cada vez mais claro a possibilidade de análise de propriedades térmicas, elétricas, mecânicas entre outras em diferentes direções do material. Por exemplo:

  • Propriedades Ópticas: Espalhamento da radiação depende do fator de forma de um material. Assim sendo, átomos mais próximos apresentam um efeito diferente do de átomos mais afastados.
  • Propriedades Elétricas: A condução em um determinado material é influenciada pela direção do cristal na qual é analisada. Um exemplo é o grafite, que conduz eletricidade na direção dos planos atômicos, porém perpendicularmente a eles apresenta comportamento isolante. [2]
Cristal de carbono hexagonal
  • Propriedades mecânicas: Diversas quantidades importantes nos estudos de mecânica, como módulo de Young, razão de Poisson e módulo de cisalhamento de um material apresentam diferenças entre seus respectivos valores para direções cristalográficas diferentes. Tomemos como exemplo um cristal de Silício. Seu módulo de Young na direção [100] é igual a 130 GPa, porém, quando tensionado na direção [111], seu módulo apresenta valor igual a 189 GPa. [3]

Cabe-se mencionar que o desenvolvimento de instrumental específico propiciou a análise das diferentes facetas das propriedades dos materiais. Equipamentos como o microscópio de transmissão, difratômetros, ressonâncias nucleares magnéticas entre outros fazem parte do pilar destas análises.


Referências

  1. Charles Kittel, Introduction to Solid State Physics (7th Edition)
  2. Neil W. Ashcroft and N. David Mermin, Solid State Physics (Harcourt: New York, 1976)
  3. J. J.Wortman and R. A. Evans, “Young’s modulus, shear modulus, and Poisson’s ratio in silicon and germanium”, J. Applied Physics, vol. 36(1), pp. 153–156, Jan. 1965.