Microscopia de força atômica: diferenças entre revisões
Conteúdo apagado Conteúdo adicionado
nova página: thumb|Esquema de funcionamento ... |
(Sem diferenças)
|
Revisão das 01h55min de 4 de março de 2013
.svg)
A microscopia de força atômica é uma técnica de análise que consiste na varredura da superfície de uma amostra com uma sonda, a fim de obter sua imagem topográfica além de mapear certas propriedades mecânicas e físico-químicas.
Para tal fim, utilizamos o microscópio de força atômica, desenvolvido em 1985 pelo Dr. Gerd Binnig et al. Ao desenvolver o aparelho, Binnig visava medir forças menores que 1μN entre a ponteira (tip) e a superfície da amostra. [1]
A técnica se tornou um excelente perfilador topográfico de superfície e medidor de força normal em micro e nanoescala. [1] Hoje as análises são feitas em áreas multidisciplinares como Física, Química, Biologia, Engenharia de Materiais, Eletrônica e Nanotecnologia.
Modos e Análises
Em Construção