Hans Busch (físico)

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Hans Busch (1884-1973), foi um professor da Universidade de Darmstadt e da Universidade de Jena (professor de Física Aplicada, de 1922 a 1947)[1] . Descobriu as propriedades de lentes de bobinas eletromagnéticas para feixes de elétrons, apresentando tal conceito em seu trabalho publicado em 1926, que mostrou que as equações usadas nas lentes poderiam ser aplicáveis aos elétrons.[2] [3] [4] Complementado em 1927, tais trabalhos foram remetidos a Reinhold Rudenberg.[5]

Por ter desenvolvidos a fundação matemática e experimental da geometria óptica de elétrons, isto é, a formação de imagens de um objeto sujeito a feixes de elétrons incidentes com o uso de lentes magnéticas, ele foi o pioneiro da ótica de elétrons, fundamento físico da microscopia eletrônica.[6]

Conjuntamente com August Köhler liderou o desenvolvimento da microscopia com os raios ultravioleta.[7] [8]

Referências[editar | editar código-fonte]

  1. History of the FriedrichSchiller University - www.germany.iha-info.org (em inglês)
  2. The Nobel Prize in Physics 1986, Perspectives - Life through a Lens.
  3. History of resolution enhancement in electron microscopy driven by Ernst Abbe - www.salve-project.de (em inglês)
  4. Bryan H. Bunch,Alexander Hellemans; The history of science and technology: a browser's guide to the great discoveries, inventions, and the people who made them, from the dawn of time to today; Houghton Mifflin Harcourt, 2004
  5. H. Gunther Rudenberg and Paul G. Rudenberg; Chapter 6 - Origin and Background of the Invention of the Electron Microscope: Commentary and Expanded Notes on Memoir of Reinhold Rüdenberg; Advances in Imaging and Electron Physics; Volume 160, 2010, Pages 207-286 (em inglês)
  6. Barry R Masters; History of the Electron Microscope in Cell Biology - www.fen.bilkent.edu.tr (em inglês)
  7. ultraviolet microscope. (2010). In Encyclopædia Britannica. Retrieved November 20, 2010, from Encyclopædia Britannica Online
  8. Ernst Ruska, translation my T Mulvey. The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy. [S.l.: s.n.]. ISBN 3-7776-0364-3