Joint Test Action Group

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Módulo de depuração do Atmel AVR JTAG ICE MKII

Joint Test Action Group (JTAG) foi um grupo criado em 1985 para desenvolver métodos para testar circuitos impressos depois de fabricados.[1] Em 1990, o IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) criou a norma IEEE 1.149,1-1990 intitulado "Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" para homologar os processos de testes.

JTAG também é amplamente usada em circuito integrado (IC) com portas de depuração.

A Microsoft, no XBox, possui um conector JTAG para a realização de testes no console.[2]

Ligações externas[editar | editar código-fonte]

Referências

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